梁英宗
北京智芯微电子科技有限公司
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梁英宗来自北京智芯微电子科技有限公司，专利48件。擅长计算机辅助设计、电性能及故障测、分析优化类型、生物模型计算、数据存储检索。最擅长计算机辅助设计。排名在TOP2。器件击穿电压确定方法、装置、芯片、电子设备及介质是存续时间最长的专利。与北京芯可鉴科技有限公司合作24次，与刘芳合作43次。
历年科研重点
电性能及故障测 计算机辅助设计 G06K9 数据存储检索 错误处理 逻辑电路 电子开关 三维建模 生物模型计算 机器学习 CAD技术细节 分析优化类型 图像增强复原
技术领域排名
专利列表
- 有效
器件沟道退化监测电路及芯片
申请日: 20241119 公开日: 20260317 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司
- 在审
一种电路能效自动化优化方法及系统
申请日: 20250820 公开日: 20251212 申请人: 上海交通大学
- 在审
半导体器件仿真方法、数据结构、数据接口、装置及系统
申请日: 20250716 公开日: 20251212 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司
- 在审
一种基于增量式布局调整与布线重构的时序优化方法
申请日: 20250821 公开日: 20251212 申请人: 上海交通大学
- 有效
一种基于混合型有限体积法的半导体器件临界击穿特性仿真方法
申请日: 20250829 公开日: 20251118 申请人: 浙江大学
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产研合作关联
与 北京芯可鉴科技有限公司 的合作详情
共 24 项合作记录瞬态热阻的模拟系统与方法
20220408CN202210367078.1
有界波电磁脉冲模拟器设计方法及系统
20220418CN202210405357.2
传输线尺寸的确定方法、系统与脉冲电场发生器
20220523CN202210561153.8
脉冲电场数据的处理方法与系统
20220523CN202210561341.0
半导体器件失效时刻预测方法、装置、设备及介质
20220628CN202210740098.9
一种设备寿命预测方法、装置及恒温加速试验系统
20220727CN202210892389.X
电力设备的可靠性试验系统及控制方法、装置和介质
20220727CN202210894078.7
器件击穿电压确定方法、装置、芯片、电子设备及介质
20220808CN202210944521.7
MOS器件寿命预测方法、装置、电子设备、介质及程序产品
20220829CN202211036892.1
CMOS器件寿命预测方法、装置、电子设备及介质
20220829CN202211039166.5
远程可视化系统与远程可视化方法
20221026CN202211316648.0
工控机与数据监测系统
20221026CN202211316658.4
工控机与数据备份系统
20221026CN202211316659.9
磁屏蔽装置、磁屏蔽装置的制备方法以及MRAM芯片
20221222CN202211654973.8
用于变更数据库表的表结构的方法和装置
20230203CN202310054937.6
全隔离横向双扩散半导体器件及制造方法
20230119CN202310055837.5
IGBT的控制装置和控制方法、芯片及电路
20230517CN202310560064.6
半导体寿命测试方法、装置、存储介质及终端设备
20230821CN202311053826.X
IGBT退饱和保护方法及IGBT退饱和保护电路
20230825CN202311091260.X
高阶非结构化网格单元的后处理显示方法、系统及介质
20230830CN202311103630.7
芯片可靠性试验远程监控装置、测试系统及方法
20230831CN202311108437.2
IGBT驱动电路及芯片
20230920CN202311220391.3
IGBT保护电路及芯片
20230920CN202311220532.1
平面版图三维建模方法和芯片仿真方法
20240112CN202410048150.3
