张勤俭

同方威视技术股份有限公司

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张勤俭来自同方威视技术股份有限公司,专利23件。擅长中子辐射测量、辐射测试、辐射测量、核辐射勘探、中性粒子束。最擅长中子辐射测量。排名在TOP3。物品检测设备及其检测方法是存续时间最长的专利。与杨祎罡合作23次。

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与 杨祎罡 的合作详情

共 23 项合作记录

辐射检查系统

20171226

CN201721843454.0

辐射检查系统和辐射检查方法

20171226

CN201711429492.6

利用光中子透射对物体成像的方法以及装置

20140926

CN201910508771.4

利用光中子透射对物体成像的装置

20140926

CN201420558258.9

利用光中子透射对物体成像的方法以及装置

20140926

CN201410500964.2

核素识别系统及光中子发射器

20131227

CN201320878858.9

核素识别方法、核素识别系统及光中子发射器

20131227

CN201310740973.4

用于组合中子探测管的阵列组合装置和中子探测设备

20130807

CN201320479965.4

用于组合中子探测管的阵列组合装置和中子探测设备

20130807

CN201310341206.6

含硼气膜快中子探测器

20120621

CN201220294371.1

含硼气膜快中子探测器

20120621

CN201210207062.0

蜂窝型热中子探测器

20111230

CN201120567246.9

蜂窝型热中子探测器

20111230

CN201110454387.4

一种快中子探测器

20111228

CN201120557438.1

一种快中子探测器

20111228

CN201110446162.4

中子敏感镀膜及其形成方法

20111219

CN201110426256.5

物品检测设备及其检测方法

20100630

CN201010223342.1

物品检测设备及其检测方法

20100630

CN201010223292.7

快中子探测方法、物质识别方法及中子探测器

20091229

CN200910244357.3

中子探测器

20091229

CN201110459081.8

基于电子对效应检测材料缺陷的方法及系统

20091229

CN200910244360.5

基于光核反应检测材料缺陷的方法及系统

20091229

CN200910244359.2

利用光中子透射对物体成像的方法及探测器阵列

20091229

CN200910244358.8