失效
NLDMOS器件、NLDMOS器件的制备方法及芯片
摘要
本发明涉及半导体技术领域,公开了一种NLDMOS器件、NLDMOS器件的制备方法及芯片。所述NLDMOS器件包括:衬底;设于所述衬底上的P型体区与N型漂移区;设于所述N型漂移区上的具有特定开口的场氧化层;以及设于所述P型体区与所述场氧化层上的栅极,其中,所述特定开口的一侧超过所述栅极同侧的外沿,位于所述特定开口内的所述场氧化层的厚度在预设范围内。本发明有效地改善了击穿电压和导通电阻互相矛盾的问题,能够提高NLDMOS器件的击穿电压并且降低NLDMOS器件的导通电阻。
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