失效
兼容标准CMOS工艺的超低功耗差分结构非易失性存储器
摘要
本发明公开了一种兼容标准CMOS工艺的超低功耗差分结构非易失性存储器,解决了不能与标准CMOS工艺兼容问题,采用了差分输出结构,缩小了存储单元结构的面积,包括多个存储单元,每个存储单元包括两个完全相同的模块;每个模块包括控制管、隧穿管、第一读取管、第二读取管和选择管五个晶体管,所有的晶体管均为单多晶硅栅结构和相同厚度的栅氧化层,该存储单元与标准CMOS工艺兼容;本发明降低应用成本,减少技术开发周期,稳定性好,读取速度比较快,可靠性高。



