失效

一种单多晶非易失存储器的存储单元

尚靖、李建成、李聪、李文晓、王震、王宏义、谷晓忱、郑黎明、李浩
中国人民解放军国防科学技术大学

摘要

本发明公开了一种单多晶非易失存储器的存储单元,包括控制管、隧穿管、选择管和浮栅,控制管为一个面积较大的PMOS管,用于将控制管上的电压耦合到浮栅上去,控制管的N阱与源极相连接,其栅极与浮栅相连;隧穿管为没有漏区或者源区,且栅极多晶部分覆盖在氧化隔离槽上的PMOS管,隧穿管的N阱与源极相连,隧穿管的栅极与浮栅相连;选择管为与控制管串联的PMOS管,选择管的源极与控制管的漏极相连,选择管的N阱与控制管的N阱、源极相连,选择管的栅极用于选择信号输入。本发明的单多晶非易失存储器的存储单元完全兼容标准CMOS工艺,能够嵌入到标准CMOS集成电路中去。这样极大降低了技术开发周期与工程生产费用。