张韡
同方威视技术股份有限公司
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张韡来自同方威视技术股份有限公司，专利14件。擅长辐射测量。最擅长辐射测量。排名在TOP8。辐射探测器是存续时间最长的专利。与张岚合作14次。
技术领域排名
专利列表
- 有效
飞行模式CdZnTe巡检系统和巡检方法
申请日: 20151224 公开日: 20190913 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
一种半导体探测器
申请日: 20130426 公开日: 20190118 申请人: 清华大学
- 有效
半导体探测器的信号处理方法及装置
申请日: 20150715 公开日: 20190111 申请人: 清华大学
- 有效
辐射探测器
申请日: 20130131 公开日: 20170503 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
光电探测器及其制造方法和辐射探测器
申请日: 20121227 公开日: 20170412 申请人: 同方威视技术股份有限公司
显示 1-5 条，共 14 条
产研合作关联
与 张岚 的合作详情
共 14 项合作记录飞行模式CdZnTe巡检系统和巡检方法
20151224CN201510983070.8
飞行模式CdZnTe巡检系统
20151224CN201521089807.3
半导体探测器的信号处理方法及装置
20150715CN201510417228.5
半导体探测器的信号处理方法及装置
20140715CN201410336256.X
一种半导体探测器
20130426CN201310149397.6
一种半导体探测器
20130426CN201320218487.1
一种半导体探测器
20130426CN201610187826.2
一种半导体探测器
20130426CN201610188180.X
辐射探测器
20130131CN201310038954.7
辐射探测器
20130131CN201320055928.0
辐射探测器及辐射探测装置
20130107CN201310004796.3
辐射探测器及辐射探测装置
20130107CN201320005909.7
光电探测器及其制造方法和辐射探测器
20121227CN201210581557.X
光电探测器和辐射探测器
20121227CN201220736668.9
