张文剑
同方威视技术股份有限公司
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张文剑来自同方威视技术股份有限公司，专利36件。擅长辐射测试、辐射测量、辐射计量附件、核辐射勘探。最擅长辐射测试。排名在TOP3。用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统是存续时间最长的专利。与张清军合作24次。
历年科研重点
辐射测试 辐射测量 核辐射勘探 特征晶体 熔剂单晶生长 化学气相沉积 电测仪器零件 辐射计量附件 专用称量 抛光组合物 梯度凝固法 场景元素
技术领域排名
专利列表
- 有效
暗箱装置及暗箱测试系统
申请日: 20241227 公开日: 20260210 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 在审
双层坩埚、使用其制备钙钛矿多晶料的方法和钙钛矿单晶的制备方法
申请日: 20251216 公开日: 20260120 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
束流分布专用探测装置和束流分布探测方法
申请日: 20210604 公开日: 20250829 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 在审
电子产品的风险检测方法和风险检测设备
申请日: 20250228 公开日: 20250328 申请人: 清华大学
- 有效
射线检测设备
申请日: 20241114 公开日: 20250211 申请人: 同方威视技术股份有限公司
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产研合作关联
与 张清军 的合作详情
共 24 项合作记录探测装置和检测设备
20200402CN202020470388.2
一种背照式光电器件的背面处理工艺
20181228CN201811631961.7
探测器模块结构
20180509CN201820684913.3
余辉检测装置
20180509CN201820684880.2
探测器模块结构
20180509CN201810437654.9
余辉检测装置和余辉检测方法
20180509CN201810437201.6
双能探测方法与装置
20180328CN201810262091.4
光电器件
20171228CN201721892050.0
闪烁体的余辉测试装置
20171226CN201721842602.7
闪烁体的余辉测试装置
20171226CN201711428826.8
辐射探测器组件
20161229CN201621467397.6
辐射探测器组件及其制造方法
20161229CN201611247731.1
基于金属键合的光电器件封装结构
20161207CN201621341212.7
基于金属键合的光电器件封装结构及其制造方法
20161207CN201611120663.2
安全检查探测器及物品安全检查系统
20150907CN201520687881.9
安全检查探测器及物品安全检查系统
20150907CN201510564447.6
陶瓷闪烁体阵列的加工方法
20141229CN201410831981.4
一种硫氧化钆闪烁陶瓷制备方法
20140814CN201410399125.6
一种硫氧化钆（GdOS）闪烁陶瓷制备方法
20140814CN201410398953.8
一种硫氧化钆闪烁陶瓷制备方法
20140814CN202011347167.7
测量物体的有效原子序数的设备
20111230CN201120570717.1
测量物体的有效原子序数的方法和设备
20111230CN201110457151.6
用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统
20080928CN200810223268.6
用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统
20080928CN200820122832.0
