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电子产品的风险检测方法和风险检测设备

李荐民、陈志强、李元景、张丽、李玉兰、朱国平、邹伟、张文剑、邹湘、张一鸣、黄铭、阮明、张战强、靳喜峰、翟兴亮、谈林霞
清华大学
李荐民机构 暂无
技术领域 暂无
陈志强机构 暂无
技术领域 暂无
李元景机构 暂无
技术领域 暂无
张丽机构 暂无
技术领域 暂无
李玉兰机构 暂无
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朱国平机构 暂无
技术领域 暂无
邹伟机构 暂无
技术领域 暂无
张文剑机构 暂无
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黄铭机构 暂无
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阮明机构 暂无
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张战强机构 暂无
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靳喜峰机构 暂无
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翟兴亮机构 暂无
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谈林霞机构 暂无
技术领域 暂无

摘要

本发明提供一种电子产品的风险检测方法和风险检测设备,应用于射线检测技术领域。该方法包括:根据获取的产品重量信息和基准重量信息,确定重量差异信息;根据获取的第一图像和第二图像,确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的峰值信噪比,峰值信噪比表征待检产品与基准产品之间的整体相似性;根据获取的第一图像和第二图像,确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的减影值,减影值表征待检产品与基准产品之间的局部差异性;根据重量差异信息、峰值信噪比和减影值,确定待检产品的风险程度。本发明通过较低的射线能量和剂量可以减小检测成本和减小防护难度。

暂无引用专利