苏洁梅
中国测试技术研究院
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苏洁梅来自中国测试技术研究院，专利11件。擅长半导体制造、图纹光刻技术、电性能及故障测、表面处理。最擅长半导体制造。排名在TOP28。一种光电探测器的脉冲响应度测试方法与装置是存续时间最长的专利。与刘小会合作8次。
历年科研重点
半导体制造 测光 H01L31 表面处理 测试或校准设备
技术领域排名
专利列表
- 有效
一种光电探测器的脉冲响应度测试方法与装置
申请日: 20230609 公开日: 20251216 申请人: 中国测试技术研究院
- 有效
一种用于楔形引线键合的快捷夹具
申请日: 20231207 公开日: 20250422 申请人: 西南技术物理研究所
- 有效
一种用于多面立体结构器件引线键合的工装夹具
申请日: 20231207 公开日: 20250422 申请人: 西南技术物理研究所
- 有效
一种用于不同外形尺寸基板全自动引线键合的工装夹具
申请日: 20231207 公开日: 20250422 申请人: 西南技术物理研究所
- 在审
一种激光光电探测器响应度控制方法
申请日: 20231201 公开日: 20240405 申请人: 西南技术物理研究所
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产研合作关联
与 刘小会 的合作详情
共 8 项合作记录一种半导体芯片聚酰亚胺成膜固化装置
20231208CN202311675321.7
一种用于多面立体结构器件引线键合的工装夹具
20231207CN202311668113.4
一种用于多面立体结构器件引线键合的工装夹具
20231207CN202323324367.2
一种用于楔形引线键合的快捷夹具
20231207CN202323325258.2
一种用于不同外形尺寸基板全自动引线键合的工装夹具
20231207CN202323325479.X
一种激光光电探测器响应度控制方法
20231201CN202311632643.3
聚酰亚胺钝化膜钝化制备工艺
20121224CN201210566860.2
带光子陷阱的光电探测芯片
20101217CN201010593239.6
