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平面型分裂栅VDMOSFET及其制造方法

魏家行、田宇、何乃龙、张森、隗兆祥、刘照宽、付浩、刘斯扬、孙伟锋、时龙兴
东南大学

摘要

本发明涉及一种平面型分裂栅VDMOSFET及其制造方法,所述平面型分裂栅VDMOSFET包括:漏极区;漂移区位于漏极区上;漏电极,位于漏极区背离漂移区的一面;JFET区,位于漂移区上;体区位于漂移区上、JFET区的两侧;源极区,位于体区上、JFET区的两侧;接触区,具有第二导电类型,位于体区的外侧,且接触区的底部比体区的底部更深;分裂栅电极,被从中间分隔开,分隔区域位于JFET区的正上方;源电极,位于源极区和接触区上,与源极区和接触区直接接触。本发明降低了栅漏电容,降低了器件的开关功耗,提高了器件在高频的性能。在不影响比导通电阻的前提下,提高了器件的击穿电压,提高了器件的长期可靠性。

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