有效

芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器

符艳军、潘成、郑利斌、付振、钟明琛、单书珊、鲁鹏
北京智芯微电子科技有限公司

摘要

本发明实施例提供一种芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器,属于芯片测试技术领域。所述芯片功能验证系统包括:一个或多个分布式处理器,分别位于一个或多个测试位处,且分别被配置有被测芯片接口,用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能;主控处理器,经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连,用于经由该第一CAN总线发送控制所述一个或多个分布式处理器执行测试的指令以及接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。本发明的芯片功能验证系统可以支持多芯片并行测试,且能够有效消除测试指令和测试信号的传输时延。