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专利列表
- 有效
一种用于半导体暗场缺陷检测的傅里叶过滤器的设计方法
申请日: 20240927 公开日: 20260217 申请人: 华中科技大学
- 在审
一种凸自由曲面反射镜的全口径面形检测方法及装置
申请日: 20231218 公开日: 20240315 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种对玻璃绝缘子的玻璃件裂缝进行检测的方法及系统
申请日: 20180827 公开日: 20230822 申请人: 中国电力科学研究院有限公司
- 失效
一种二次曲面反射镜拼接干涉检测子孔径规划方法及系统
申请日: 20211217 公开日: 20220920 申请人: 华中科技大学
- 失效
一种投影图像处理模块、三维重构方法及其系统
申请日: 20211027 公开日: 20220208 申请人: 华中科技大学
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