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一种电路板测试数据分析系统及方法
摘要
本申请公开一种电路板测试数据分析系统及方法,包括:工控机、PXI集成机箱和接口适配器,工控机与PXI集成机箱通信连接,PXI集成机箱与接口适配器连接,接口适配器用于连接待测电路板;工控机用于响应于待测电路板与接口适配器的连接操作,为待测电路板分配PXI集成机箱中的PXI测试通道;PXI测试通道与待测电路板的第一测试项对应;PXI集成机箱用于基于PXI测试通道,获取待测电路板对应PXI测试通道的测试数据;工控机用于将测试数据输入训练后的网络模型,输出待测电路板的第二测试项的预测测试结果;第二测试项为在第一测试项之后进行的测试项;工控机用于显示预测测试结果。该系统能对PCBA的多个测试内容进行全面测试,同时预测可能测试结果,提升测试效率。
暂无引用专利



