芯片外部恒定磁场抗扰度检测装置及芯片

本发明涉及磁场抗干扰检测技术领域，提供一种芯片外部恒定磁场抗扰度检测装置及芯片。所述装置包括：滑动控制组件、芯片姿态调整组件以及控制器。滑动控制组件包括主电机、滑动导轨以及安装于滑动导轨的移动臂，移动臂上安装有永磁铁。芯片姿态调整组件包括旋转电机、旋转机构以及安装于旋转机构上的芯片座。控制器用于通过控制主电机的启动来带动移动臂沿滑动导轨移动，以使移动臂上的永磁铁靠近或远离芯片座，通过控制旋转电机的启动来带动旋转机构进行旋转，以使芯片座上放置的待测芯片相对永磁铁旋转运动。本发明可实现芯片的全球面多角度的抗扰度检测，提高检测效率。