1.一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法，其特征在于，该方法包括：针对所述电路的第一组成部件支路或第二组成部件支路中的任一所述组成部件，根据以下内容进行测评且在进行测评之前所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路处于正向不导通的状态：控制测评组成部件支路正向导通且持续第一预设时间，以对充放电模块进行充电，其中，所述测评组成部件支路为所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路中被测评的所述组成部件所在的组成部件支路，所述电路包括供电模块、所述第一组成部件支路、所述第二组成部件支路、所述充放电模块和开关模块，所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路通过第一连接点进行连接以串联在所述供电模块的两端之间，所述第一组成部件支路包括至少一个组成部件，所述第二组成部件支路包括至少一个组成部件，所述充放电模块的一端连接所述第一连接点，所述开关模块位于所述供电模块的两端之间，在所述测评组成部件支路正向导通期间所述供电模块、所述开关模块、所述充放电模块和所述测评组成部件支路组成回路，所述组成部件为IGBT或MOSFET；控制所述测评组成部件支路正向不导通且持续第二预设时间，以使得所述充放电模块进行放电，其中，在所述测评组成部件支路正向不导通期间所述开关模块、所述充放电模块和所述测评组成部件支路的对侧组成部件支路组成回路，所述测评组成部件支路的对侧组成部件支路为与所述测评组成部件支路串联的组成部件支路；获取被测评的所述组成部件的测评参数，其中，所述测评参数包括上升时间、下降时间、开通延迟时间和关断延迟时间；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的所述组成部件的状态，以对被测评的所述组成部件进行测评。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取被测评的所述组成部件的测评参数之前，该方法还包括：控制所述测评组成部件支路正向导通且持续第三预设时间。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对被测评的所述组成部件进行测评之前所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路未处于正向不导通状态的情况下，该方法还包括：控制所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路正向不导通。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述开关模块包括第一开关部件支路和第二开关部件支路，所述第一开关部件支路和所述第二开关部件支路分别包括至少一个开关部件，所述第一开关部件支路和所述第二开关部件支路通过第二连接点以串联在所述供电模块的两端之间，所述充放电模块连接在所述第一连接点和所述第二连接点之间，所述第一开关部件支路和所述第一组成部件支路相对于所述充放电模块位于同侧，所述第二开关部件支路和所述第二组成部件支路相对于所述充放电模块位于同侧，所述开关部件为IGBT或MOSFET，在进行测评之前控制所述第一开关部件支路和所述第二开关部件支路正向不导通，该方法还包括：在对所述第一组成部件支路上的所述组成部件进行测评时，控制所述第二开关部件支路正向导通；和/或在对所述第二组成部件支路上的所述组成部件进行测评时，控制所述第一开关部件支路正向导通。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述组成部件为IGBT，所述测评参数还包括集电极与发射极之间的电压、栅极与发射极之间的电压和集电极电流。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，在所述电路中包括组成部件支路的情况下，控制所述组成部件支路正向导通或正向不导通为通过对所述组成部件支路中的所述组成部件施加脉冲来实现；以及在所述电路中包括开关部件支路的情况下，控制所述开关部件支路正向导通或正向不导通为通过对所述开关部件支路中的所述开关部件施加脉冲来实现。
7.一种用于对电路中的组成部件进行测评的装置，其特征在于，该装置包括：测评模块，用于针对所述电路的第一组成部件支路或第二组成部件支路中的任一所述组成部件，根据以下内容进行测评且在进行测评之前所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路处于正向不导通的状态：控制测评组成部件支路正向导通且持续第一预设时间，以对充放电模块进行充电，其中，所述测评组成部件支路为所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路中被测评的所述组成部件所在的组成部件支路，所述电路包括供电模块、所述第一组成部件支路、所述第二组成部件支路、所述充放电模块和开关模块，所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路通过第一连接点进行连接以串联在所述供电模块的两端之间，所述第一组成部件支路包括至少一个组成部件，所述第二组成部件支路包括至少一个组成部件，所述充放电模块的一端连接所述第一连接点，所述开关模块位于所述供电模块的两端之间，在所述测评组成部件支路正向导通期间所述供电模块、所述开关模块、所述充放电模块和所述测评组成部件支路组成回路，所述组成部件为IGBT或MOSFET；控制所述测评组成部件支路正向不导通且持续第二预设时间，以使得所述充放电模块进行放电，其中，在所述测评组成部件支路正向不导通期间所述开关模块、所述充放电模块和所述测评组成部件支路的对侧组成部件支路组成回路，所述测评组成部件支路的对侧组成部件支路为与所述测评组成部件支路串联的组成部件支路；获取被测评的所述组成部件的测评参数，其中，所述测评参数包括上升时间、下降时间、开通延迟时间和关断延迟时间；以及根据所获取的测评参数和预设测评参数，判断被测评的所述组成部件的状态，以对被测评的所述组成部件进行测评。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测评模块还用于：在所述获取被测评的所述组成部件的测评参数之前，控制所述测评组成部件支路正向导通且持续第三预设时间。
9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测评模块还用于：在对被测评的所述组成部件进行测评之前所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路未处于正向不导通状态的情况下，控制所述第一组成部件支路和所述第二组成部件支路正向不导通。
10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述开关模块包括第一开关部件支路和第二开关部件支路，所述第一开关部件支路和所述第二开关部件支路分别包括至少一个开关部件，所述第一开关部件支路和所述第二开关部件支路通过第二连接点以串联在所述供电模块的两端之间，所述充放电模块连接在所述第一连接点和所述第二连接点之间，所述第一开关部件支路和所述第一组成部件支路相对于所述充放电模块位于同侧，所述第二开关部件支路和所述第二组成部件支路相对于所述充放电模块位于同侧，所述开关部件为IGBT或MOSFET，在进行测评之前控制所述第一开关部件支路和所述第二开关部件支路正向不导通，所述测评模块还用于：在对所述第一组成部件支路上的所述组成部件进行测评时，控制所述第二开关部件支路正向导通；和/或在对所述第二组成部件支路上的所述组成部件进行测评时，控制所述第一开关部件支路正向导通。
11.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述组成部件为IGBT，所述测评参数还包括集电极与发射极之间的电压、栅极与发射极之间的电压和集电极电流。
12.根据权利要求7-11中任一项所述的装置，其特征在于，在所述电路中包括组成部件支路的情况下，所述测评模块控制所述组成部件支路正向导通或正向不导通为通过对所述组成部件支路中的所述组成部件施加脉冲来实现；以及在所述电路中包括开关部件支路的情况下，所述测评模块控制所述开关部件支路正向导通或正向不导通为通过对所述开关部件支路中的所述开关部件施加脉冲来实现。
13.一种电路，其特征在于，该电路包括组成部件，所述组成部件根据权利要求1-6中任一项所述的方法进行测评。
