有效

用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路

王于波、付振、张泉、王勇、尹强、肖超、田俊、杨毓龙、黄凯、周宏宇
北京芯可鉴科技有限公司

摘要

本发明涉及电路部件的测评领域,公开了一种用于对电路中的组成部件进行测评的方法和装置及电路,该方法包括:针对电路中的任一组成部件,根据以下内容进行测评且进行测评之前六个支路处于正向不导通的状态:控制被测评的组成部件所在的支路和被测评的组成部件的对侧支路正向导通且持续第一预设时间;控制被测评的组成部件所在的支路正向不导通但被测评的组成部件的对侧支路正向导通且持续第二预设时间,以使得两者进行放电;获取被测评的组成部件的测评参数;以及根据所获取的测评参数和预设测评参数,判断被测评的组成部件的状态,以对被测评的组成部件进行测评。藉此,实现了无需将组成部件拆卸下来即可对组成部件进行测评。