1.一种芯片EMC抗扰度自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片参数信息；其中，所述待测芯片参数信息包括：所述待测芯片的芯片类型、芯片型号和额定工作参数中的至少一者；基于所述待测芯片参数信息确定芯片的初始测试参数；其中，所述初始测试参数为第一轮测试的测试参数；所述基于所述待测芯片参数信息确定芯片的初始测试参数，包括：在预设知识库中根据所述待测芯片的芯片类型和芯片型号进行测试标准检索；若存在匹配的测试标准，则基于所述测试标准确定初始测试参数；若不存在匹配的测试标准，则基于所述待测芯片的额定工作参数或模拟工作工况需求参数自定义初始测试参数；基于所述初始测试参数逐级确定后续每一轮对应的测试参数，进行多轮芯片测试，直到触发预设截止规则，获取测试结果；其中，每一轮测试的测试参数为在上一轮测试对应的测试参数的基础上经预设修调规则调整后的测试参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始测试参数包括：干扰信号输出功率。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片测试包括：根据该轮测试的测试参数输出对应波形的干扰信号；对所述干扰信号进行功放放大，获得放大信号；将所述放大信号间接和/或直接加注到芯片上进行芯片测试。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设截止规则在最新一轮测试的测试结果为不通过的情况下触发。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每一轮测试的测试结果通过以下步骤获取：完成该轮测试后，根据芯片的功能设计进行芯片模拟运行，并判断运行结果；若运行结果满足芯片设计需求，判定测试结果为通过；若运行结果不满足芯片设计需求，则判定测试结果为不通过。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在多轮芯片测试中，每一轮测试包括：响应于测试通过触发信号，基于预设修调规则进行测试参数功率放大；基于经预设修调规则调整后的测试参数进行芯片测试，并在完成测试后判断测试是否通过。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：进行芯片稳定性测试，包括：响应于测试不通过触发信号，提取本轮测试的上一轮测试的测试参数；将上一轮测试的测试参数作为芯片极限测试参数；对比芯片极限测试参数与芯片的额定工作参数，若芯片极限测试参数小于所述额定工作参数，则判定稳定性测试不通过。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：进行芯片适用测试，包括：响应于测试不通过触发信号，提取本轮测试的上一轮测试的测试参数；将上一轮测试的测试参数作为芯片极限测试参数；对比芯片极限测试参数与模拟工作工况需求参数；若芯片极限测试参数小于所述模拟工作工况需求参数，则判定芯片适用测试不通过。
9.一种芯片EMC抗扰度自动测试系统，其特征在于，所述系统包括：采集单元，用于获取待测芯片参数信息；其中，所述待测芯片参数信息包括：所述待测芯片的芯片类型、芯片型号和额定工作参数中的至少一者；预设单元，用于基于所述待测芯片参数信息确定芯片的初始测试参数；其中，所述初始测试参数为第一轮测试的测试参数；所述基于所述待测芯片参数信息确定芯片的初始测试参数，包括：在预设知识库中根据所述待测芯片的芯片类型和芯片型号进行测试标准检索；若存在匹配的测试标准，则基于所述测试标准确定初始测试参数；若不存在匹配的测试标准，则基于所述待测芯片的额定工作参数或模拟工作工况需求参数自定义初始测试参数；测试单元，用于基于所述初始测试参数逐级确定后续每一轮对应的测试参数，进行芯片多轮测试，直到触发预设截止规则，获取测试结果；其中，每一轮测试的测试参数为在上一轮测试对应的测试参数的基础上经预设修调规则调整后的测试参数。
10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述测试单元包括：信号源，用于根据该轮测试的测试参数输出对应波形的干扰信号；放大模块，用于对所述干扰信号进行功放放大，获得放大信号；注入模块，用于将所述放大信号间接和/或直接加注到芯片上进行测试；修正模块，用于根据预设修调规则对测试参数进行调整；输出模块，用于输出测试结果。
11.一种计算机可读储存介质，该计算机可读存储介质上储存有指令，其在计算机上运行时使得计算机执行权利要求1-8中任一项权利要求所述的芯片EMC抗扰度自动测试方法。
