失效
基于异步物理层接口的PCIe接口芯片硬件验证方法
肖
肖立权 专利 62
中国人民解放军国防科技大学张
张磊 专利 10
中国人民解放军国防科学技术大学王
王克非 专利 29
深圳市楠菲微电子股份有限公司刘
刘路 专利 28
中国人民解放军国防科技大学沈
沈胜宇 专利 9
中国人民解放军国防科学技术大学王
王学慧 专利 1
中国人民解放军国防科学技术大学张
张鹤颖 专利 11
中国人民解放军国防科技大学肖
肖灿文 专利 30
中国人民解放军国防科技大学王
王永庆 专利 10
中国人民解放军国防科学技术大学伍
伍楠 专利 36
深圳市风云实业有限公司戴
戴艺 专利 39
中国人民解放军国防科技大学曹
曹继军 专利 37
中国人民解放军国防科技大学高
高蕾 专利 47
中国人民解放军国防科学技术大学摘要
本发明公开了一种基于异步物理层接口的PCIe接口芯片硬件验证方法,其实施步骤如下:1)构建具有标准PCI Express接口的FPGA硬件平台;2)在待验证的PCI Express接口芯片ASIC代码中的PCI Express软核与物理层之间插入用于匹配频率差的异步物理层接口;3)将待验证的PCI Express接口芯片ASIC代码迁移到FPGA硬件平台综合实现,并根据PCIExpress接口芯片被综合的最高频率设置降频PIPE接口的工作频率;4)使用测试程序通过FPGA硬件平台对PCI Express接口芯片的PCI Express软核和用户逻辑进行功能测试。本发明能够实现PCI Express接口芯片的降频硬件验证,具有兼容现有测试代码、实现简单方便、通用性好、资源占用率低的优点。



