何禹彤
西南技术物理研究所
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何禹彤来自西南技术物理研究所，专利13件。擅长光学设备测试、半导体激光器、频率测量、光调制器件、电性能及故障测。最擅长光学设备测试。排名在TOP11。一种基于相位比较的电光强度调制器啁啾参数测试方法是存续时间最长的专利。与张尚剑合作12次。
历年科研重点
光学设备测试 测光 光调制器件 半导体激光器 测试或校准设备 电性能及故障测 频率测量 光传输 激光器 光导结构 其它光学
技术领域排名
专利列表
- 在审
一种步进移频式脉冲光发生装置及方法
申请日: 20250629 公开日: 20251121 申请人: 西南技术物理研究所
- 失效
一种激光器芯片测试的热沉结构和方法
申请日: 20220718 公开日: 20240820 申请人: 电子科技大学
- 有效
一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法
申请日: 20220124 公开日: 20230721 申请人: 电子科技大学
- 有效
一种电光强度调制器芯片频率响应测试的方法
申请日: 20220119 公开日: 20230714 申请人: 电子科技大学
- 在审
一种高稳定的双输出被动锁模激光器
申请日: 20221123 公开日: 20230404 申请人: 电子科技大学
显示 1-5 条，共 13 条
产研合作关联
与 张尚剑 的合作详情
共 12 项合作记录一种高稳定的双输出被动锁模激光器
20221123CN202211470984.0
一种激光器芯片测试的热沉结构和方法
20220718CN202210854746.3
一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法
20220124CN202210082379.X
一种电光强度调制器芯片频率响应测试的装置与方法
20220119CN202210061300.5
一种电光强度调制器芯片频率响应测试的方法
20220119CN202210061300.5
一种光电探测器芯片频率响应测试的装置与方法
20210902CN202111046387.0
一种光电探测器芯片频率响应测试的方法
20210902CN202111046387.0
一种光电探测器的光电响应测量方法
20201119CN202011297897.0
一种光电探测器的光电响应测量装置与方法
20201119CN202011297897.0
一种半导体激光器的稳频系统
20200519CN202010423890.2
一种伪随机码激励的光滤波器幅频响应测量装置与方法
20200420CN202010309424.1
一种光频梳信号产生装置及产生方法
20200114CN202010035356.4
一种宽频段光电探测器频率响应的测试装置与方法
20191202CN201911217270.7
一种宽频段光电探测器频率响应的测试方法
20191202CN201911217270.7
一种基于相位比较的电光强度调制器啁啾参数测试方法
20190304CN201910160187.4
光延迟器件的延迟参数的测量方法
20180912CN201811059211.7
光延迟器件的延迟参数的测量方法与装置
20180912CN201811059211.7
