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专利列表
- 在审
基于角分辨散射测量实现光存储的方法及装置
申请日: 20250930 公开日: 20260113 申请人: 海南大学
- 在审
MBE过程中纳米线掺杂的原位监测方法及装置
申请日: 20250930 公开日: 20260109 申请人: 海南大学
- 在审
3D NAND刻蚀孔径关键尺寸测量方法及装置
申请日: 20250930 公开日: 20260109 申请人: 海南大学
- 在审
基于角分辨散射的相变薄膜材料折射率的测量方法及装置
申请日: 20250930 公开日: 20260109 申请人: 海南大学
- 在审
微通孔结构的散射测量方法及系统
申请日: 20250917 公开日: 20260109 申请人: 海南大学
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