吴楠昊

吴楠昊来自武汉工程大学，专利2件。擅长测量器械、水准测量、弹性测试、特定数据处理、光学计量。最擅长测量器械。排名在TOP100。基于三维扫描的挠度获取和横向分布影响线的计算方法及系统是存续时间最长的专利。与湖北地环勘察设计院有限公司合作1次，与张威合作2次。