王清华
同方威视技术股份有限公司
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王清华来自同方威视技术股份有限公司，专利14件。擅长粒子分光、电化磁测、辐射测量、辐射测试、放电处理。最擅长粒子分光。排名在TOP13。离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法是存续时间最长的专利。与李元景合作14次。
技术领域排名
专利列表
- 有效
一种用于离子迁移谱仪的迁移管模块
申请日: 20100630 公开日: 20160615 申请人: 清华大学
- 有效
离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法
申请日: 20090630 公开日: 20150408 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法
申请日: 20090630 公开日: 20140813 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 失效
气体辐射探测器及辐射成像系统
申请日: 20080509 公开日: 20140806 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
一种用于离子迁移谱仪的迁移管模块
申请日: 20100630 公开日: 20140423 申请人: 清华大学
显示 1-5 条，共 14 条
产研合作关联
与 李元景 的合作详情
共 14 项合作记录一种用于离子迁移谱仪的迁移管模块
20100630CN201010223341.7
一种用于离子迁移谱仪的迁移管模块
20100630CN201310690394.3
多通道多道脉冲幅度分析器
20090630CN200910088621.9
离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法
20090630CN200910088635.0
多通道多道脉冲幅度分析器
20090630CN200920109043.8
离子迁移谱仪
20090630CN200920109055.0
离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法
20090630CN201110439573.0
离子迁移谱仪及利用离子迁移谱仪的检测方法
20090630CN201110439692.6
双极性离子迁移谱仪的离子门及方法
20081020CN200810119974.6
用于迁移率谱仪中迁移管的电极结构
20080612CN200810114816.1
用于迁移率谱仪中迁移管的电极结构
20080612CN200820108522.3
双面离子源
20080519CN200810111942.1
气体辐射探测器及辐射成像系统
20080509CN200810106280.9
气体辐射探测器及辐射成像系统
20080509CN201010621615.8
