江年铭
清华同方威视技术股份有限公司
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江年铭来自清华同方威视技术股份有限公司,专利16件。擅长辐射测试、辐射测量、X射线管电路、放射诊断设备、辐射计量附件。最擅长辐射测试。排名在TOP3。一种用于辐射成像用的数据获取和控制电路及其方法是存续时间最长的专利。与同方威视技术股份有限公司合作6次,与李元景合作16次。
清华同方威视技术股份有限公司
江年铭来自清华同方威视技术股份有限公司,专利16件。擅长辐射测试、辐射测量、X射线管电路、放射诊断设备、辐射计量附件。最擅长辐射测试。排名在TOP3。一种用于辐射成像用的数据获取和控制电路及其方法是存续时间最长的专利。与同方威视技术股份有限公司合作6次,与李元景合作16次。
申请日: 20080612 公开日: 20121114 申请人: 清华大学
申请日: 20061208 公开日: 20120711 申请人: 清华大学
申请日: 20080928 公开日: 20110511 申请人: 同方威视技术股份有限公司
申请日: 20051109 公开日: 20110209 申请人: 清华大学
申请日: 20051103 公开日: 20101229 申请人: 清华大学