李徽
同方威视技术股份有限公司
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李徽来自同方威视技术股份有限公司，专利15件。擅长电化磁测、取样制备、粒子分光、离子束管、非生化分析。最擅长电化磁测。排名在TOP5。一种可连续提供采样载体的方法和装置是存续时间最长的专利。与张仲夏合作15次。
技术领域排名
专利列表
- 失效
一种适于掺杂气发生装置的加热控温装置
申请日: 20090630 公开日: 20150819 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 失效
掺杂气发生装置
申请日: 20090630 公开日: 20140723 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
用于痕量探测仪的样品处理系统及方法
申请日: 20080521 公开日: 20131023 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
使用掺杂剂的离子迁移谱仪(IMS)的检测系统及检测方法
申请日: 20090925 公开日: 20130313 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 失效
用于迁移率谱仪中迁移管的电极结构
申请日: 20080612 公开日: 20121121 申请人: 同方威视技术股份有限公司
显示 1-5 条，共 15 条
产研合作关联
与 张仲夏 的合作详情
共 15 项合作记录使用掺杂剂的离子迁移谱仪(IMS)的检测系统及检测方法
20090925CN200910093179.9
利用离子迁移谱(IMS)技术检测食品或饲料中三聚氰胺的方法
20090630CN200910088627.6
掺杂气发生装置
20090630CN200910088628.0
掺杂气发生装置
20090630CN200920109050.8
掺杂气发生装置
20090630CN201110410109.9
一种适于掺杂气发生装置的加热控温装置
20090630CN201110410142.1
掺杂气发生装置
20090630CN201110410142.1
痕量检测仪和用于痕量检测仪的分析方法
20090525CN200910085555.X
用于痕量检测仪的气路集成装置
20081224CN200810240927.7
用于迁移率谱仪中迁移管的电极结构
20080612CN200810114816.1
用于迁移率谱仪中迁移管的电极结构
20080612CN200820108522.3
用于痕量探测仪的样品处理系统及方法
20080521CN200810112209.1
双面离子源
20080519CN200810111942.1
一种可连续提供采样载体的方法和装置
20080429CN200810105507.8
一种手持式擦拭采样装置
20080429CN200810105508.2
一种可连续提供采样载体的装置
20080429CN200820080296.2
