孙立风
同方威视技术股份有限公司
0专利总数
0许可专利
0转让专利
0第一发明人
0合作企业
孙立风来自同方威视技术股份有限公司，专利17件。擅长辐射测量、辐射测试、辐射计量附件、核辐射勘探。最擅长辐射测量。排名在TOP16。测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备是存续时间最长的专利。与张清军合作17次。
技术领域排名
专利列表
- 有效
大面积X射线气体探测器
申请日: 20170703 公开日: 20240611 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
闪烁体的余辉测试装置
申请日: 20171226 公开日: 20240514 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
背散射探测模块
申请日: 20170620 公开日: 20240322 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
辐射探测器组件及其制造方法
申请日: 20161229 公开日: 20240301 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 有效
用于中子探测的敏感层及其形成方法
申请日: 20171225 公开日: 20190802 申请人: 同方威视技术股份有限公司
显示 1-5 条，共 17 条
产研合作关联
与 张清军 的合作详情
共 17 项合作记录闪烁体灵敏度测量装置
20171226CN201721842782.9
闪烁体的余辉测试装置
20171226CN201721842602.7
闪烁体灵敏度测量装置及测量方法
20171226CN201711428925.6
闪烁体的余辉测试装置
20171226CN201711428826.8
用于中子探测的敏感层及其形成方法
20171225CN201711419057.5
大面积X射线气体探测器
20170703CN201720798010.3
大面积X射线气体探测器
20170703CN201710534517.2
背散射探测模块
20170620CN201710469197.7
背散射探测模块
20170620CN201720718414.7
辐射探测器组件
20161229CN201621467397.6
辐射探测器组件及其制造方法
20161229CN201611247731.1
双能探测器及辐射检查系统
20161223CN201621423586.3
双能探测器及辐射检查系统
20161223CN201611205087.1
测量闪烁体灵敏度的设备
20151229CN201521128273.0
测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备
20151229CN201511018469.9
射线探测方法、装置、探测器组件和射线探测器
20150909CN201510568491.4
探测器组件和射线探测器
20150909CN201520693215.6
