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专利列表
- 在审
光刻负显影过程的建模和标定方法
申请日: 20250429 公开日: 20250812 申请人: 武汉宇微光学软件有限公司
- 在审
一种基于代理模型辅助混合遗传算法的光刻模型标定方法
申请日: 20250416 公开日: 20250725 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种对探针与样品间距变化不敏感的电势测量方法
申请日: 20211231 公开日: 20240220 申请人: 华中科技大学
- 在审
一种代码作者归属确定方法、装置、设备及介质
申请日: 20230707 公开日: 20231003 申请人: 华中科技大学
- 在审
多态隐藏下的恶意代码隐式情报追踪方法及系统
申请日: 20230523 公开日: 20230908 申请人: 华中科技大学
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