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专利列表
- 在审
基于线阵CCD垂直扫掠成像的屏均匀性检测方法
申请日: 20250109 公开日: 20250506 申请人: 电子科技大学（深圳）高等研究院
- 有效
一种电致发光纤维、纱线和织物及其制备方法
申请日: 20211210 公开日: 20250124 申请人: 武汉新润兴材料科技有限公司
- 在审
一种无感化实时连续温度感知系统及方法
申请日: 20240819 公开日: 20241122 申请人: 华中科技大学
- 在审
一种利用聚焦离子束制备纳米级小孔存储器透射电镜样品的方法
申请日: 20240327 公开日: 20240628 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种彩色织物条码、制备方法、显示方法、防伪验证方法
申请日: 20211119 公开日: 20240517 申请人: 华中科技大学
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