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专利列表
- 有效
一种超薄膜光学常数快速测量方法
申请日: 20190419 公开日: 20201229 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种材料介电张量测量方法
申请日: 20190826 公开日: 20201229 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种材料光学跃迁分析方法及系统
申请日: 20190416 公开日: 20200714 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种二维材料复光导率确定方法
申请日: 20190816 公开日: 20200609 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种液晶可变相位延迟器偏振特性检测方法及系统
申请日: 20180321 公开日: 20200121 申请人: 华中科技大学
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