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专利列表
- 有效
微孔内表面和过渡曲面轮廓测量方法及装置
申请日: 20250604 公开日: 20250808 申请人: 华中科技大学
- 有效
微孔内表面大角度曲面轮廓测量方法及装置
申请日: 20250604 公开日: 20250808 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种光谱共焦薄膜厚度测量信号的重叠峰分离方法与装置
申请日: 20240805 公开日: 20241108 申请人: 华中科技大学
- 有效
基于超表面的光谱共焦位移测量方法、装置及存储介质
申请日: 20240805 公开日: 20241108 申请人: 华中科技大学
- 有效
一种测量透明材料厚度和折射率的方法及装置
申请日: 20231108 公开日: 20240903 申请人: 华中科技大学
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