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专利列表
- 有效
一种光栅干涉测量装置
申请日: 20251125 公开日: 20260320 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 失效
一种基于环形结构光的彩色共焦线位移传感器及测距方法
申请日: 20250407 公开日: 20250509 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 有效
一种基于超声光栅的高精度位移测量系统及方法
申请日: 20250110 公开日: 20250415 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 有效
一种利特罗光栅干涉测量装置及其使用方法
申请日: 20240805 公开日: 20240927 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 有效
基于双光栅的双向Littrow二自由度光栅干涉测量装置
申请日: 20231208 公开日: 20240213 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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