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专利列表
- 有效
集成电路的测试装置
申请日: 20121226 公开日: 20160914 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 有效
一种单粒子效应测试装置及系统
申请日: 20121228 公开日: 20160406 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 失效
一种基于字线分割的存储器多位翻转的检测方法
申请日: 20130531 公开日: 20160113 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 有效
一种数字集成电路测试总线接口
申请日: 20130108 公开日: 20151111 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 有效
一种旋转装置和基于该旋转装置的单粒子测试系统
申请日: 20121228 公开日: 20151104 申请人: 中国科学院微电子研究所
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