张盼盼

张盼盼来自中国科学院微电子研究所，专利4件。擅长模式识别、电性能及故障测、物化变测温、特定数据处理、计算机辅助设计。最擅长模式识别。排名在TOP49。一种评估芯片质量分析模型准确率的方法和系统是存续时间最长的专利。与吴旦昱合作4次。