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专利列表
- 失效
铁磁半导体平面内磁各向异性的光电流测试系统及方法
申请日: 20160301 公开日: 20190329 申请人: 中国科学院半导体研究所
- 失效
测量半导体材料表面微结构缺陷的显微成像装置和方法
申请日: 20151231 公开日: 20160608 申请人: 中国科学院半导体研究所
- 失效
材料的微区应力测试系统
申请日: 20140410 公开日: 20140723 申请人: 中国科学院半导体研究所
- 失效
光致反常霍尔效应的变温测量装置及测量方法
申请日: 20140213 公开日: 20140521 申请人: 中国科学院半导体研究所
- 失效
半导体材料微区应力测试系统
申请日: 20130523 公开日: 20130918 申请人: 中国科学院半导体研究所
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