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专利列表
- 有效
一种多波段光电成像系统面积测量误差评估方法
申请日: 20250228 公开日: 20251216 申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 有效
一种基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法
申请日: 20241203 公开日: 20250930 申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 在审
基于大动态温度场分布特点的高温燃烧产物红外面积特性评估方法
申请日: 20250228 公开日: 20250523 申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 在审
一种基于方位码的双红外组件外同步采样成像方法
申请日: 20241220 公开日: 20250404 申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
- 失效
一种基于NFC技术的分布式传感器网络系统
申请日: 20150722 公开日: 20180626 申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
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