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专利列表
- 有效
太赫兹近场探针针尖处理方法及装置
申请日: 20230712 公开日: 20260206 申请人: 电子科技大学
- 有效
晶圆的测试结构、测试晶圆和测试晶圆的制备方法
申请日: 20250318 公开日: 20251121 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
- 在审
基板、基板分层失效测试方法、装置、测试设备及存储介质
申请日: 20250530 公开日: 20250926 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
- 有效
一种基于太赫兹片上光谱的芯片电路缺陷检测系统及方法
申请日: 20250612 公开日: 20250822 申请人: 电子科技大学
- 有效
分类模型构建方法及青铜器锈蚀成分分析方法及系统
申请日: 20230726 公开日: 20250715 申请人: 电子科技大学
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