刘红婕
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
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刘红婕来自中国工程物理研究院激光聚变研究中心，专利49件。擅长光学法测试材料、光学设备测试、激光加工、显微镜、非透镜光学。最擅长光学法测试材料。排名在TOP2。提升熔石英光学元件损伤阈值的后处理方法是存续时间最长的专利。与孙来喜合作32次。
历年科研重点
光学法测试材料 玻璃表面处理 光学材料涂层 玻璃退火 计算机辅助设计 激光器 非透镜光学 其它光学 取样制备 图像几何变换 反射面系统 光调制器件 图纹光刻技术 真空镀覆 激光加工 晶体后处理 光学计量
技术领域排名
专利列表
- 在审
一种提升蓝宝石光学元件高压冲击损伤阈值的后处理方法
申请日: 20241226 公开日: 20250401 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 有效
一种少量离散缺陷图像的精确拼接方法
申请日: 20210721 公开日: 20241105 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 有效
一种平顶激光光束产生装置及其设计方法
申请日: 20221021 公开日: 20240802 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 有效
杂散光辐照下产尘污染诱导光学元件性能退化模拟系统
申请日: 20240205 公开日: 20240716 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 有效
弱荧光成像条件下的熔石英亚表面缺陷高分辨成像方法
申请日: 20210721 公开日: 20240712 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
显示 1-5 条，共 49 条
产研合作关联
与 黄进 的合作详情
共 32 项合作记录一种非线性光学晶体的激光预处理方法
20230829CN202311103942.8
一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置
20200306CN202020265354.X
一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置和检测方法
20200306CN202010150613.9
一种利用荧光增强法检测光学元件亚表面缺陷的方法
20200211CN202010086350.X
一种预测光学元件表面激光损伤性能的方法和系统
20191202CN201911213585.4
一种缺陷检测设备
20181127CN201821972030.9
一种缺陷检测设备及方法
20181127CN201811429344.9
一种微纳结构的制备方法
20180903CN201811019444.4
一种光学元件面散射缺陷探测装置
20180329CN201820440975.X
一种光学元件面散射缺陷探测装置
20180329CN201810272728.8
一种光学元件体散射缺陷探测装置及探测方法
20180329CN201810273557.0
一种光学元件体散射缺陷探测装置
20180329CN201820441013.6
一种无损评价光学元件损伤性能的方法
20170116CN201710027947.5
快速三维探测光学元件亚表面缺陷的检测装置
20170111CN201720027309.9
快速三维探测光学元件亚表面缺陷的检测装置及检测方法
20170111CN201710017461.3
一种熔石英光学元件表面的处理方法
20160728CN201610606135.1
一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统
20160421CN201620345947.0
一种光学元件激光预处理系统
20160421CN201620345540.8
一种光学元件激光预处理系统
20160421CN201620345442.4
一种光学元件激光预处理系统
20160421CN201610256778.8
一种光学元件激光预处理系统
20160421CN201610255308.X
一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统及方法
20160421CN201610255112.0
一种光热弱吸收测试系统
20160303CN201620162935.4
一种光热弱吸收测试系统及方法
20160303CN201610121294.2
一种光热弱吸收测试装置
20160205CN201620117076.7
一种光热弱吸收测试装置及方法
20160205CN201610081864.X
提升熔石英光学元件损伤阈值的后处理方法
20151208CN201510892890.6
熔石英亚表层微缺陷探测装置
20150820CN201520629413.6
自掩膜制备随机亚波长宽带减反射微结构的方法
20141016CN201410546087.2
一种清洗夹持装置
20140926CN201420557852.6
一种清洗夹持装置
20140926CN201410500521.3
一种提升熔石英光学元件损伤阈值的方法
20130906CN201310401544.4
