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专利列表
- 在审
一种中子屏蔽件的屏蔽性能的测量方法及测量装置
申请日: 20240402 公开日: 20240809 申请人: 中国原子能科学研究院
- 有效
一种用于测量薄膜厚度的方法
申请日: 20181229 公开日: 20191224 申请人: 中国原子能科学研究院
- 失效
一种放射性样品测量架位自动调节系统
申请日: 20170509 公开日: 20170919 申请人: 中国原子能科学研究院
- 有效
一种自动进样回样循环排队装置
申请日: 20151009 公开日: 20170503 申请人: 中国原子能科学研究院
- 有效
一种制备大面积高密度核径迹纳米孔膜的设备、方法及膜
申请日: 20141010 公开日: 20170104 申请人: 中国原子能科学研究院
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