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专利列表
- 在审
样品检测方法、系统、设备及介质
申请日: 20251211 公开日: 20260320 申请人: 上海科技大学
- 在审
一种针对高重频自由电子激光衍射成像数据的压缩储存方法
申请日: 20251021 公开日: 20260120 申请人: 上海科技大学
- 在审
一种基于多距离扫描的X射线波前检测误差校正系统
申请日: 20250814 公开日: 20251226 申请人: 上海科技大学
- 有效
一种X射线自由电子激光和飞秒激光的时空耦合系统及方法
申请日: 20240801 公开日: 20251205 申请人: 上海科技大学
- 在审
一种X射线光子关联谱样品实验平台及其调控方法
申请日: 20240506 公开日: 20251107 申请人: 上海科技大学
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