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专利列表
- 在审
精确测量物体表面粗糙度的方法及系统
申请日: 20240423 公开日: 20251024 申请人: 上海交通大学
- 在审
软硬件结合的衍射图案投影中心校正方法及系统
申请日: 20250526 公开日: 20250902 申请人: 上海交通大学
- 在审
修正粒子衍射技术投影成像误差的方法及系统
申请日: 20240410 公开日: 20240723 申请人: 上海交通大学
- 在审
测量单晶晶向的方法、系统及介质
申请日: 20220402 公开日: 20231024 申请人: 上海交通大学
- 有效
校正粒子衍射图像图案中心和欧拉角的方法、系统及介质
申请日: 20210105 公开日: 20221230 申请人: 上海交通大学
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