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专利列表
- 有效
基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法
申请日: 20221129 公开日: 20250916 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 有效
透过散射介质的无侵入光学成像和定位的装置和方法
申请日: 20200611 公开日: 20241213 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 有效
基于动态散射系统的在探测面积受限情况下的成像方法
申请日: 20190605 公开日: 20240412 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 在审
一种二维像素阵列目标差分探测方法和系统
申请日: 20210831 公开日: 20230303 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 有效
反射式散射光场成像中的背向干扰滤除方法及成像系统
申请日: 20190109 公开日: 20221011 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
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科研动态
中国科学院揭示深度学习跨数据集泛化不足的物理本质
来源: Advanced Photonics合作: 赖溥祥、张大伟
中国科学院上海光学精密机械研究所揭示不同散射成分在散斑自相关成像中的作用差异
来源: Optics Letters
中国科学院上海光学精密机械研究所实现散射介质中超分辨成像与定位
来源: Journal of Biomedical Optics
中国科学院发现弹道光与散射光在深度学习散射成像中的不同作用机制
来源: Photonics Research合作: 赖溥祥、张大伟
中国科学院提出路径采样积分方法，首次实现宏观散射介质内光场追踪与出射散斑计算。
来源: Optics Express合作: Lihong V. Wang
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