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专利列表
- 有效
一种降低AlN外延层缺陷的外延生长方法
申请日: 20240416 公开日: 20260317 申请人: 南京大学
- 在审
一种E面SIW的功率合成器
申请日: 20251209 公开日: 20260217 申请人: 南京大学
- 在审
一种GaN功率器件的可靠性测试电路及测试方法
申请日: 20251216 公开日: 20260206 申请人: 南京大学
- 在审
一种具有低关态漏电的增强型PSJ-HEMT器件及制备方法
申请日: 20251125 公开日: 20251226 申请人: 南京大学
- 有效
一种夹层沉积AlN薄膜的溅射生长方法
申请日: 20240416 公开日: 20251104 申请人: 南京大学
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