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专利列表
- 在审
面向少层过渡金属硫族化合物薄膜的高灵敏层数测量方法
申请日: 20251113 公开日: 20260213 申请人: 天津大学
- 有效
一种基于零反射差分信号测量各向异性薄膜的方法
申请日: 20220819 公开日: 20260206 申请人: 天津大学
- 在审
基于准布鲁斯特角光谱的原子薄膜厚度测量方法
申请日: 20251113 公开日: 20251230 申请人: 天津大学
- 在审
基于背焦面成像的斜入射式角分辨椭偏光谱测量装置及方法
申请日: 20251117 公开日: 20251230 申请人: 天津大学
- 在审
一种同时测量形貌和厚度的自相干光纤干涉装置及方法
申请日: 20250825 公开日: 20251031 申请人: 天津大学
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