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专利列表
- 有效
一种电子点缺陷的探测方法
申请日: 20260109 公开日: 20260324 申请人: 中国科学技术大学
- 有效
适用于钻石晶体生长的自适应方法、装置、系统
申请日: 20241205 公开日: 20250418 申请人: 中国科学技术大学
- 有效
一种氮空位色心传感器及其制备方法
申请日: 20200218 公开日: 20250411 申请人: 中国科学技术大学
- 在审
基于固体材料中荧光缺陷进行信息高速读出的方法及系统
申请日: 20241126 公开日: 20250408 申请人: 中国科学技术大学
- 在审
基于固体材料中荧光缺陷进行高速高密度信息写入的方法及系统
申请日: 20241126 公开日: 20250408 申请人: 中国科学技术大学
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科研动态
中国科学技术大学发展应变工程调控自旋极化新方法
来源: 物理评论快报合作: 王孟祺、刘志贤、孙家豪、徐甘雨
中国科学技术大学提出多维关联压印技术实现纳米尺度多体纠缠探测
来源: 物理评论快报合作: 王评
中国科学技术大学首次实现噪声环境下纠缠增强的纳米尺度单自旋探测
来源: Nature合作: 周旭、王孟祺、杜江峰
中国科学技术大学实现纠缠增强纳米尺度单自旋探测
来源: Nature合作: 周旭、王孟祺、杜江峰
中国科学技术大学首次观测到非厄米非阿贝尔拓扑转变和狄拉克奇异点
来源: 《自然·纳米技术》；《物理评论快报》合作: 杜江峰、荣星、胡海平、王云汉、伍旸、朱东方昊
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