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专利列表
- 在审
晶体生长数据的记录装置、其记录方法、存储介质及设备
申请日: 20250307 公开日: 20250617 申请人: 中国科学院物理研究所
- 在审
组合薄膜参数测量器件、测量装置及调控方法
申请日: 20250110 公开日: 20250516 申请人: 中国科学院物理研究所
- 在审
组合薄膜制备方法和测试方法
申请日: 20250109 公开日: 20250516 申请人: 中国科学院物理研究所
- 在审
磁场穿透深度测量系统及测量方法
申请日: 20231030 公开日: 20240112 申请人: 中国科学院物理研究所
- 有效
用于样品加热的加热装置
申请日: 20220331 公开日: 20231128 申请人: 松山湖材料实验室
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