1.分视场二次成像系统中继后组探测器辅助精密装调方法，其特征是，该方法包括以下步骤：步骤1，安装模拟器；在共用成像前组（1）的一次像面位置处安装模拟器（2）；步骤2，固定光源；将辅助光源（5）固定在模拟器（2）的正前方，使其能够均匀照射整个模拟器（2）表面；步骤3，调整光源；调整辅助光源（5）的亮度和照射角度，确保四个透光小孔（2-2）和透光十字线（2-3）通过分视场中继后组一（3-1）能够清晰成像于探测器一（4-1）上；步骤4，调整探测器一（4-1）的轴向位置；使用辅助光源（5）对模拟器（2）进行照明，不断移动探测器一（4-1）的轴向位置，测试四个透光小孔（2-2）在探测器一（4-1）上的成像效果，当成像清晰时，实现对探测器（4-1）轴向位置的调整，从而固定探测器一（4-1）位于像面位置；步骤5，调整探测器一（4-1）的旋转；使用辅助光源（5）对模拟器（2）进行照明，模拟器（2）上透光十字线（2-3）在探测器一（4-1）上成像，通过该成像沿探测器一（4-1）水平方向的高低像素位置偏差与垂直方向的左右位置偏差，定量反馈探测器一（4-1）位姿旋转的调整方向与调整量，当调整为该成像沿探测器一（4-1）水平方向的高低像素位置偏差与垂直方向的左右位置无偏差时，即可认为探测器一（4-1）的旋转调整完毕；步骤6，调整探测器一（4-1）的平移；使用辅助光源（5）对模拟器（2）进行照明，模拟器（2）上透光十字线（2-3）在探测器一（4-1）上成像，在步骤5的基础上，通过该成像相对中心位置的偏差调整探测器一（4-1）位姿平移的调整方向与调整量，当调整为该成像相对中心位置的偏差为零时，即可认为探测器一（4-1）的平移调整完毕。
2.根据权利要求1所述的分视场二次成像系统中继后组探测器辅助精密装调方法，其特征在于，该方法所基于分视场二次成像系统，该系统包括共用成像前组（1）、三个分视场中继后组（3）和三个探测器（4），所述共用成像前组（1）将物体成像至一次像面；所述三个分视场中继后组（3）对一次像面进行视场分割，并且三个分视场中继后组（3）将分割后的独立视场二次成像至对应的探测器（4）上；当分视场二次成像系统中继后组探测器辅助精密装调时，模拟器（2）放置在所述一次像面处。
3.根据权利要求2所述的分视场二次成像系统中继后组探测器辅助精密装调方法，其特征在于，三个分视场中继后组（3）分别是分视场中继后组一（3-1），分视场中继后组二（3-2），分视场中继后组三（3-3）；三个探测器（4）分别是探测器一（4-1） 、探测器二（4-2）和探测器三（4-3）；所述探测器二（4-2）和探测器三（4-3）采用相同的方法进行精密装调。
