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一种元素组分调节的耗尽型和增强型ScAlN/GaN基HEMT的制备方法

王平、叶昊天、王新强、王睿、冯冉、安炳炫、陈仕潮、徐浩天、王涛、王丁、陈兆营、刘放
北京大学
王平机构 暂无
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叶昊天机构 暂无
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摘要

本发明公开了一种元素组分调节的耗尽型和增强型ScAlN/GaN基HEMT的制备方法,属于半导体器件领域。本发明利用Sc组分调控ScAlN自发极化和压电极化,实现了对ScAlN/GaN异质结二维载流子的调节,从而在同一技术路线下实现耗尽型和增强型GaN基HEMT器件。本发明仅需调整ScAlN势垒层的Sc组分,即能够选择制备电子或空穴导电的耗尽型HEMT以及增强型HEMT器件,生产技术简单。本发明的耗尽型ScAlN/GaN基HEMT器件能够实现更高浓度二维载流子浓度,能够被用于大功率电路领域。本发明的增强型ScAlN/GaN基HEMT的工艺流程大大简化,器件制备难度低,可靠性更好;同时因工艺步骤少,不同阶段对器件结构的损伤更小,有效提升了器件良率。

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