有效

一种套刻标记、光罩组件及检测方法

张仁伟、金鑫、张祥平
合肥晶合集成电路股份有限公司
张仁伟机构 暂无
技术领域 暂无
金鑫机构 暂无
技术领域 暂无
张祥平机构 暂无
技术领域 暂无

摘要

本发明提供一种套刻标记、光罩组件及检测方法,具体涉及半导体领域。所述套刻标记包括第一标记图案和第二标记图案,其中,第一标记图案包括第一拼接图案和第一面内图案,第一面内图案设置在第一拼接图案的一侧;第二标记图案包括第二拼接图案和第二面内图案,第二面内图案设置在第二拼接图案的一侧;第一标记图案与第二标记图案拼接时,第一拼接图案与第二拼接图案形成交叉区,且第一拼接图案与第二拼接图案在第一方向和第二方向上均具有重叠区域;第一面内图案位于第二拼接图案的夹角区域内,第二面内图案位于第一拼接图案的夹角区域内。本发明采用量测工具可以一次性量出所有计算OVL所需要的CD尺寸,提高套刻精度的检测效率。