一种不同运行年限下串补二次设备缺陷率的计算方法、装置、介质及设备

本发明公开了一种不同运行年限下串补二次设备缺陷率的计算方法、装置、介质及设备。方法包括：提取满足预设统计条件的串补二次设备集合及串补二次设备缺陷集合；基于运行年限的划分粒度，将运行年限划分为多个连续的运行年限单元；遍历串补二次设备集合中的串补二次设备，根据其投运时间和退运时间，确定其生命周期所覆盖的运行年限单元，并将所覆盖的每一个运行年限单元对应的设备数量计数器加1；遍历串补二次设备缺陷集合中的设备缺陷，根据该缺陷发生时对应串补二次设备的运行年限，确定其所属的运行年限单元，并将该运行年限单元对应的缺陷数量计数器加1；对于每一个运行年限单元，根据其对应的缺陷数量和设备数量计算该运行年限单元的缺陷率。