一种与西瓜果皮放射条覆纹相关的分子标记及其应用

本发明提供了一种与西瓜果皮放射条覆纹相关的分子标记及其应用，属于西瓜分子育种技术领域。所述分子标记通过检测SNP位点来鉴别西瓜果皮放射条覆纹，所述SNP位点位于西瓜基因组的第6号染色体第28476770位核苷酸；所述SNP位点的基因型为CC的西瓜果皮为放射条覆纹，所述SNP位点的基因型为TT或T/C的西瓜为齿条纹覆纹。本发明设计通过检测所述SNP位点来鉴定西瓜果皮放射条覆纹的dCAPS分子标记，本发明的dCAPS分子标记特异性高，对果皮放射条覆纹鉴定的准确率为100%，可快速准确的鉴定果皮覆纹类型，加速育种进程。