在审
变压器套管的缺陷指数确定方法、装置及电子设备
摘要
本发明公开了一种变压器套管的缺陷指数确定方法、装置及电子设备。其中,该方法包括:获取待检测套管的套管数据;确定与套管类型对应的参照缺陷集;依据套管运行数据,确定第一缺陷特征;依据多个参照套管分别对应的参照缺陷特征,确定第二缺陷特征;依据第一缺陷特征,以及第二缺陷特征,确定与待检测套管对应的目标缺陷指数。本发明解决了相关技术中,在对变压器套管进行缺陷指数确定时,存在缺陷指数确定不准确的技术问题。
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本发明公开了一种变压器套管的缺陷指数确定方法、装置及电子设备。其中,该方法包括:获取待检测套管的套管数据;确定与套管类型对应的参照缺陷集;依据套管运行数据,确定第一缺陷特征;依据多个参照套管分别对应的参照缺陷特征,确定第二缺陷特征;依据第一缺陷特征,以及第二缺陷特征,确定与待检测套管对应的目标缺陷指数。本发明解决了相关技术中,在对变压器套管进行缺陷指数确定时,存在缺陷指数确定不准确的技术问题。